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LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻是什么原因?

文章来源:插件电阻人气:90发表时间:2022-08-08 15:52:05

  电阻元器件供应链-冠发科技今天为大家讲讲LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻是什么原因。用不同品牌的LCR数字电桥或者同一品牌LCR数字电桥的不同型号,对兆欧级高阻值电阻进行测量时,以下是解决LCR数字电桥测量兆欧级高阻值电阻问题的方法,供大家参考。

电阻

  LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻

  高阻值包含一个寄生pF级电容,该电容与电阻并联在一起:

  确认使用LCR数字电桥测试高阻值电阻时,应选择Cp-Rp测试功能(并联等效电路模式),使测试电路模式与电阻的实际等效电路相匹配。

  Xp代表寄生电容在测试频率上的电抗(电容性阻抗),公式“D”代表电阻在测试频率上的损耗因素。

  如果使用R-X测试功能来测试电阻,那么LCR电桥要采用如下所示的串联等效电路:

  串联等效电路模式(R-X测量中)不同于高值电阻的实际并联等效电路,R-X模式中的被测电阻与实际并联电阻(RP)不一致。

  从理论上讲,串联电阻(Rs)与并联电阻(Rp)的关系可用等式RS=Rp*D2(1+D2)表示,此处串联和并联等效电路的损耗因数(D)值是相等的:

  当D值不够高(纯电阻性)时,串联电阻(Rs)总是低于并联电阻(Rp)。

  所以,在使用LCR数字电桥测量高阻值电阻时,请选择Cp-Rp测试功能(并联等效电路模式),或者使用万用表M档进行测试及购买专业电阻测试仪设备。

  关于LCR数字电桥测量兆欧级高阻值抗电阻的技术点,想要了解更多的,可关注冠发科技官网,如有需要了解更多电阻元器件的相关技术知识,欢迎留言获取!

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